所谓定向最大截距，是指沿一定方向所测得的颗粒最大直径（如图2所示）。该方法适用于粒状矿物颗粒或集合体粒径的测定。

2、定向随机截距

对于非粒状矿物颗粒或集合体，若为脉宽变化较为均匀的脉体，测其宽度作为粒径。若为由一层赤铁矿、一层玉髓组成的规则同心层状的颗粒，则测赤铁矿单层的厚度作为其粒径。若为片状矿物（如石墨、白云母、滑石等），测其解理面上的长轴作为划分粒级的粒径。对于特长纤维的矿物（如石棉），一般测其纤维长度作为划分粒级的粒径。若矿物颗粒为不规则体，通常用定向随机截距来表示其粒径（如图3所示），即根据等间距的定向测线所截的长度即定向随机截距d1、d2、d3、d4、d5等来表示其粒径。

由于磨光切面大都未通过颗粒中心，所以所测得的粒径数值总是要比实际的偏小一些。但若进行大量颗粒的测量，则其代表性和精确度会随着测量颗粒数的增加而提高。因此，在进行粒度测量时，应保证足够的测量颗粒数目。

根据考察要求及物料来源，嵌布粒度特征研究用样品可分为两类：一类是块状矿石；另一类是破碎后的综合颗粒样品。为了保证样品的代表性，以尽可能少的工作量，取得对整体有实际意义的嵌布特征数据，就需要认真仔细地选取观测用的矿石样品。

1、块状矿石样品的选取

特别是从矿床中直接采取的地质矿样，大多是和选矿取样工作同时进行的。即在选矿取样点，按相同比例原则采取相应数量的手标本。这些手标本就成为观测用的第一批代表性矿样。

如果是从选矿样中抽取，根据原始试样粒度不同可以有两种做法。当试样是中碎后-50mm以下的块矿时，首先是从选矿样品中缩分出部分矿石（10~500 kg），将其充分拌匀后摊平，然后在一定网度在网线交点上拣取制片矿块。

取样网的形状除了正方形外，长方形、菱形也可。采样网的疏密必须根据矿石试样的品位、结构构造、矿床成因类型而定。一般做法是矿石品位高、结构构造较简单的试样，取样点可以稀疏一些；反之则应加密。同时，取样时要注意消除人为因素的影响。不要光拣富矿块，粗粒联布的。网点上是什么矿石，就采什么样的矿石。因为，为了使试验时的矿石状况与选厂生产时人工选矿石相吻合，往往在试验样中配人适量的围岩和贫矿。这部分矿石、岩石中的矿物组成、颗粒大小、彼此间的结合关系，与矿体中的矿石差别较大，对矿石的分选工艺有着不容忽视的影响。因此，采样时不能随意舍取，以免降低样品的代表性。最后从中选出15~25块矿块，供磨制光（薄）片。

2、细碎后的综合样

细碎后粒度2~0 mm的综合样是代表性极好的粒度测定用样品。它虽然对原生矿物嵌布特征有较多的破坏，但并不影响对矿物选别性质的指导意义。因为对分选工艺具有实际意义的，通常是矿石粒度0.1 mm以下时的矿物解离状况。而粒度2~0 mm的细碎试样，无论是金属含量、矿物种类、伴生组分、有害杂质含量、围岩混入或者是矿石物理性质等方面，都实现了比较理想的混匀。具体做法是首先从大样中抽取2~3 kg碎矿样，然后缩分，并磨制成4~5块砂光片供镜下测定用。

在选取用于测量的具有代表性的原矿石样品时，如果粒度范围较窄，或粒度范围虽宽但大小颗粒在矿石中按比例分布均匀，或欲测矿物的相对含量较多，便只需选测较少量的光片。如果粒度范围较宽，且颗粒大小悬殊，并在矿石中分布又不均匀时，则需选测较多数量的光片。在制片时，须垂直层理、片理、片麻理和条带方向磨制。

为增强样品的代表性，减少抽样误差，减少测量工作量，一般常将具代表性的欲测矿石样品进行破碎至3 mm左右，进行缩分，再用胶结剂（虫胶，电木粉，环氧树脂和三乙醇胺，松香和松节油，或赛璐珞等）进行胶固，最后磨制成团块（砂）光片供工艺粒度测量或矿物百分含量测量用。对于松散矿石或松散的选矿产品，也须用上述方法磨制成团块（砂）光片，以供测量用。

在粒度测量时，须人为地划分出一些粒径分布的区间—粒级，以便进行粒度测量。粒级的划分，须服务于矿石选矿工艺的要求。随着工艺方法的不同，粒级的划分也不同。粒级的划分须根据不同矿石选矿工艺的要求来划分。划分好粒级后，再测量出各粒级的颗粒数，然后进行粒度分布的计算。

在显微镜下进行工艺粒度测量时，粒级的划分可按目镜微尺的格子数来划分（如2、4、8、16、32……）。在选择放大倍数，即目镜一物镜组合时，一般以保证最小粒级颗粒的放大物象的大小不少于目镜微尺的2个刻度、最大粒级颗粒的放大物象不超越目镜微尺的刻度范围为宜。